Tektronix DSA8300數字串行分析儀采樣示波器是一款高性能的儀器，可以用來測試和分析高速光信號和電信號，支持多種光接口標準和應用。

• 垂直分辨率 – 16 位模數轉換器
• 電接口分辨率：<20 µV LSB（適用于 1 v 全量程）
• 光接口分辨率從 80C07B（1 mW 全量程）的<20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• 光接口帶寬 >80 GHz
• 電接口帶寬 >70 GHz
• 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
• 80 多種行業標準模板，自動進行模板測試
• 復雜抖動/噪聲/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持復雜測量 TDECQ 1, SNDR 2 (應用)

DSA8300 數字串行分析儀為開發和測試采用幾千兆位數據傳 輸技術的通信、計算機和消費電子提供了的工具。 它可以用來對這些產品中使用的器件、模塊和系統的光接口和 電接口發射機進行檢定及一致性驗證。

此外，DSA8300 特別適合電接口信號路徑檢定，包括封裝、 PCB 或電纜。由于杰出的帶寬、信號保真度及可擴展性的模塊化架構，DSA8300 為當前和新興串行數據技術提供了 最高性能的 TDR 和互連分析能力、最準確的信號損傷分析能 力以及 BER 計算功能。

最后，由于杰出的信號保真度和分辨率，對要求超高帶寬、超 精細垂直分辨率、低抖動和/或杰出低噪聲的電接口和光接口應用，DSA8300 提供了黃金標準。

DSA8300 擁有測量系統保真度的基本儀器 抖動本底（對速率 >1.25 Gb/s 的串行數據信號，典型值為 425 fs RMS），保證最準確地同時采集最多 8 個高帶寬信號。 使用 82A04B 相位參考模塊時，采集抖動低于 100 fs RMS 使 分析效果更佳。

多處理器結構及每插槽專用數字信號處理器 (DSP) 提供了快 速波形采集速率，縮短了進行可靠的檢定和一致性驗證所需的測試時間。

DSA8300 的通用模塊化結構支持大量的且不斷增加的插件， 您可以為測量系統配置，您當前應用和未來應用的 電接口模塊、光接口模塊和附件模塊。DSA8300 提供了 6 個 模塊插槽，可以同時容納一個時鐘恢復模塊、一個精密相位參 考模塊和多個電接口或光接口采集模塊，可以讓系統性能與不 斷演變的需求相適應。由于能夠在不斷電的情況下插拔采樣 模塊，DSA8300（適用于固件版本為 6.1 及以上的示波器）可 以根據測試需求變化，更加靈活地配置DSA8300。

此外，專用模塊配套功能，如單端和差分電接口時鐘恢復、電 接口采樣器靜電保護及連接流行的 TekConnect® 探測系統， 在高阻抗探測和差分探測中提供了泰克探頭性能。另 外，還提供用于 50 Ω 探測和 TDR 探測的低阻抗探頭。 DSA8300 及相關應用軟件完善的測量和分析功能進一步增強 了 DSA8300 及其采樣模塊和附件的原始采集性能。

光接口測試應用測量和分析工具

DSA8300 為滿足光接口測試應用專門設計的各種測量和分析 工具。除標準幅度和定時參數測量外（如上升時間/下降時間、 幅度、RMS 抖動、RMS 噪聲、頻率、周期等）外，DSA8300 的測量套件還包括為測量光接口信號訂制的測量（平均光接口 功率、消光比、眼圖高度、眼圖寬度、光接口調制幅度 (OMA)、 等等）。如需完整的測量清單，請參閱本產品技術資料的測量部分。

DSA8300 還包括標準一致性測試模塊，支持 155 Mb/s ~ 100 Gb/s 的所有常用光標準。DSA8300 模板測試系統可以 把標準和用戶模板自動擬合到波形數據庫內采集的數據中。 模板測試系統還可以基于模板違例總數或模板違例相對于模 板測試單位間隔中采集的樣點數的比率，自動確定模板余量。 用戶還可以創建定制模板，自動進行模板測試。另外還提供了 直方圖和光標測量，分析 DSA8300 采集的光接口信號。

測試解決方案

DSA8300 擁有高度可配置的主機和各種模塊，提供了完整的 測試解決方案及杰出的系統保真度。

光接口模塊

泰克 80C00 家族光采林蔭道模塊覆蓋了單模光纖和多模 光纖的各種波長。各種模塊提供了多種功能，如時鐘恢復、 基準接收機濾波器和各種標準測試解決方案。 參閱訂貨信息部分，獲得最新提供的光模塊列表。

電接口模塊

泰克 80E00 家族光采模塊提供提供了各種功能，用戶可以 配置專門為其應用設計的測試解決方案。有各種帶寬解決 方案及其他功能，如時域反射計或 S 參數測試。

實用工具模塊

泰克 80A00 和 82A00 家族模塊提供了額外的功能，如相 位基準和 ESD 保護。

l 80A02 EOS ESD 隔離模塊

l 82A04B 相位基準模塊

l 80A03 模擬擴展裝置