KEITHLEY 吉時利 2601B-PULSE 數(shù)字源表詳細介紹

1. 產(chǎn)品概述

KEITHLEY 吉時利 2601B-PULSE 數(shù)字源表（SourceMeter®），專為脈沖測試、半導體特性分析和高精度電流-電壓（I-V）測量而設計。它結合了精密電源、電流源、數(shù)字萬用表（DMM）和電子負載的功能，適用于功率器件測試、納米材料研究、LED/激光二極管測試等應用。

2. 核心特點

3. 關鍵性能參數(shù)

4. 典型應用場景

4.1 功率半導體測試

• SiC/GaN MOSFET 動態(tài)特性分析

• 測量 開關損耗（Switching Loss）、柵極電荷（Qg）

• 支持 雙脈沖測試（DPT），評估器件瞬態(tài)響應

• IGBT 模塊可靠性驗證

• 高電流脈沖測試（20 A 脈沖），模擬實際工作條件

4.2 納米材料與器件研究

• 碳納米管/二維材料 I-V 曲線測量

• 10 fA 級電流檢測，適用于 低維電子器件

• 四象限模式研究 負微分電阻（NDR）效應

4.3 光電與顯示器件測試

• LED/激光二極管 L-I-V 特性分析

• 快速脈沖模式避免 自熱效應（Self-Heating） 導致的測量誤差

• 集成 光功率計接口，實現(xiàn)光電參數(shù)同步采集

5. 系統(tǒng)集成與軟件支持

5.1 硬件擴展能力

• TSP-Link® 多機同步：支持 16 臺設備級聯(lián)，構建多通道測試系統(tǒng)

• GPIB/LAN/USB 接口：兼容主流自動化測試平臺

5.2 軟件生態(tài)

6. 與競品對比

7. 總結

KEITHLEY 2601B-PULSE 憑借其 超高精度、高速脈沖測試能力 和 靈活的擴展性，成為 功率半導體、納米電子學、光電器件 等領域的理想測試工具。其 10 μs 級短脈沖 和 飛安級電流檢測 技術，尤其適合對 動態(tài)特性 和 微弱信號 要求嚴苛的應用場景。