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簡(jiǎn)要描述:Keysight高性能數(shù)字存儲(chǔ)示波器 DSOX6004A 示波器:4 通道配置,1GHz 帶寬可升級(jí)至 6GHz,5GSa/s 采樣率;4Mpts 深存儲(chǔ) + MegaZoom IV 技術(shù),10.1 英寸觸屏操作,支持協(xié)議解碼與功率分析,適配高速數(shù)字、電源及無(wú)線通信測(cè)試。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | KEYSIGHT/美國(guó)是德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字示波器 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,綜合 |
Keysight高性能數(shù)字存儲(chǔ)示波器 DSOX6004A 示波器
靈活帶寬與高速采樣:1GHz 基礎(chǔ)帶寬可升級(jí)至 6GHz,適配從百兆到千兆級(jí)高速信號(hào)測(cè)試需求;5GSa/s 實(shí)時(shí)采樣率,確保在全帶寬范圍內(nèi)無(wú)失真捕獲信號(hào)邊沿、過(guò)沖等瞬態(tài)特征,滿足高速數(shù)字電路等場(chǎng)景的精準(zhǔn)測(cè)量。
智能存儲(chǔ)與數(shù)據(jù)處理:搭載 MegaZoom IV 智能存儲(chǔ)器技術(shù),優(yōu)化數(shù)據(jù)讀寫(xiě)與緩存效率,兼顧存儲(chǔ)深度與操作響應(yīng)速度;提供高達(dá) 4Mpts 每通道存儲(chǔ)深度,可完整記錄長(zhǎng)時(shí)間序列信號(hào)或復(fù)雜瞬態(tài)事件,避免關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)遺漏。
豐富高級(jí)分析功能:支持串行協(xié)議解碼(涵蓋 I2C、SPI、UART、CAN、Ethernet 等),可直接解析總線數(shù)據(jù)幀,定位通信故障;集成功率分析功能,精準(zhǔn)測(cè)量電源功耗與紋波特性;具備頻譜視圖功能,可快速分析信號(hào)頻率域特征,拓展測(cè)試維度。
便捷操作與交互體驗(yàn):10.1 英寸電容觸摸屏支持手勢(shì)縮放、拖拽及區(qū)域觸發(fā)操作,界面布局貼合工程測(cè)試習(xí)慣;支持多語(yǔ)言(含中文)顯示與自定義快捷鍵,可根據(jù)測(cè)試需求調(diào)整操作流程,提升使用效率。
緊湊設(shè)計(jì)與擴(kuò)展適配:機(jī)身結(jié)構(gòu)緊湊,有效節(jié)省實(shí)驗(yàn)室或工作臺(tái)空間;集成 USB 3.0(數(shù)據(jù)傳輸 + 外設(shè)擴(kuò)展)、LAN(LXI-C,支持遠(yuǎn)程控制)、HDMI(外接顯示)等接口,可靈活連接電腦、打印機(jī)、外部顯示器等設(shè)備,滿足多樣化測(cè)試環(huán)境需求。
高速數(shù)字電路調(diào)試:適用于 DDR4/DDR5、PCIe 4.0/5.0、Ethernet(10Gbps)等高速接口電路調(diào)試,5GSa/s 采樣率可清晰呈現(xiàn)信號(hào)時(shí)序偏移、串?dāng)_、過(guò)沖等問(wèn)題,協(xié)議解碼功能快速定位總線通信故障,保障高速數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定性。
電源完整性分析:針對(duì)開(kāi)關(guān)電源、電源管理芯片(PMIC)、DC-DC 模塊等產(chǎn)品,功率分析功能可精準(zhǔn)測(cè)量電源輸出紋波、噪聲、功耗及轉(zhuǎn)換效率;4Mpts 存儲(chǔ)深度記錄長(zhǎng)時(shí)間負(fù)載變化下的電源動(dòng)態(tài)響應(yīng),助力優(yōu)化電源設(shè)計(jì)。
無(wú)線通信測(cè)試:支持無(wú)線通信模塊(如 5G NR、Wi-Fi 6/7)的射頻前端信號(hào)測(cè)試,頻譜視圖功能分析信號(hào)頻率分布與雜散特性;高采樣率與寬帶寬適配射頻信號(hào)捕獲需求,輔助驗(yàn)證通信模塊信號(hào)質(zhì)量與傳輸性能。
工業(yè)電子研發(fā):用于工業(yè)伺服驅(qū)動(dòng)器、高速 PLC、工業(yè)以太網(wǎng)設(shè)備研發(fā),監(jiān)測(cè)控制信號(hào)與數(shù)據(jù)傳輸信號(hào),分析信號(hào)完整性與抗干擾能力,確保設(shè)備在工業(yè)環(huán)境下的穩(wěn)定運(yùn)行,符合工業(yè)電子測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
半導(dǎo)體測(cè)試:適配半導(dǎo)體芯片(如高速處理器、射頻芯片)的研發(fā)與驗(yàn)證,捕獲芯片輸入輸出信號(hào),分析信號(hào)時(shí)序與電平特性,結(jié)合協(xié)議解碼功能驗(yàn)證芯片與外設(shè)的通信兼容性,支撐芯片性能優(yōu)化。
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